时间 | 演讲主题 | 公司/演讲人 |
---|---|---|
9:00-9:20 | 主题演讲 | |
9:20-9:50 | 基于PXI架构的高速高精度信号测量应用新趋势 | 凌华科技 |
9:50-10:20 | PXI射频开关系统优化设计 | Pickering |
10:20-10:35 | 茶歇&产品展示 | |
10:35-11:05 | 轻松应对未来的测试挑战——和NI一起基于PXI平台构建测控应用解决方案 | 美国国家仪器 |
11:05-11:35 | 基于PXI的元器件测试系统 | Open ATE |
11:35-12:05 | “新常态”下PXI技术创新应用的些许思考 | 北京航天测控 |
12:05-13:15 | 自助午餐&产品展示 | |
13:15-13:45 | 聚星定制—基于PXI定制射频收发 | 聚星仪器 |
13:45-14:15 | 消除PXI测试系统的电缆连接 | MacPanel |
14:15-14:45 | 茶歇&产品展示 | |
14:45-15:15 | 分布式和混合式PXIe系统 | VTI |
15:15-15:45 | PXI系统在通用测试平台中的应用 | 海泰电子 |
15:45-16:15 | LTE/LTE-A多通道同步校准在MIMO和波束成形中的应用 | 是德科技 |
16:15-16:45 | 如何使用基于SMU的PXI系统实现高速/高精确信号采集及测试 | Chroma |
16:45-17:00 | 问答&抽奖 |
时间 | 演讲主题 | 公司/演讲人 |
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9:00-9:20 | 主题演讲 | |
9:20-9:50 | “新常态”下PXI技术创新应用的些许思考 | 北京航天测控 |
9:50-10:20 | 轻松应对未来的测试挑战——和NI一起基于PXI平台构建测控应用解决方案 | 美国国家仪器 |
10:20-10:35 | 茶歇&产品展示 | |
10:35-11:05 | 解决LTE/LTE-A多通道同步校准在MIMO和波束成形中的应用 | 是德科技 |
11:05-11:35 | PXI射频开关系统优化设计 | Pickering |
11:35-12:05 | 基于PXI架构的高速高精度信号测量应用新趋势 | 凌华科技 |
12:05-13:15 | 自助午餐&产品展示 | |
13:15-13:45 | 分布式和混合式PXIe系统 | VTI |
13:45-14:15 | 如何使用基于SMU的PXI系统实现高速/高精确信号采集及测试 | Chroma |
14:15-14:45 | 茶歇&产品展示 | |
14:45-15:15 | PXI系统中为什么要选择海量互联解决方案? | VPC |
15:15-15:45 | 基于PXI的元器件测试系统 | Open ATE |
15:45-16:15 | 聚星定制—基于PXI定制射频收发 | 聚星仪器 |
16:15-16:45 | 消除PXI测试系统的电缆连接 | MacPanel |
16:45-17:15 | PXI系统在通用测试平台中的应用 | 海泰电子 |
17:15-17:25 | 问答&抽奖 |
时间 | 演讲主题 | 公司/演讲人 |
---|---|---|
9:00-9:03 | 开幕致辞 | 崔建平 |
9:05-9:25 | 主题演讲:PXI平台开启测试测量的未来 | Adam Foster先生 资深产品经理 美国国家仪器 |
9:25-9:55 | 如何使用基于SMU的PXI系统实现高速/高精确信号采集及测试 | Chroma |
9:55-10:25 | PXI系统在通用测试平台中的应用 | 海泰电子 |
10:25-10:40 | 茶歇&产品展示 | |
10:40-11:10 | 解决LTE/LTE-A多通道同步校准在MIMO和波束成形中的应用 | 是德科技 |
11:10-11:40 | 消除PXI测试系统的电缆连接 | MacPanel |
11:40-12:10 | 轻松应对未来的测试挑战——和NI一起基于PXI平台构建测控应用解决方案 | 美国国家仪器 |
12:10-13:15 | 自助午餐&产品展示 | |
13:15-13:45 | PXI射频开关系统优化设计 | Pickering |
13:45-14:15 | 聚星定制—基于PXI定制射频收发 | 聚星仪器 |
14:15-14:45 | 茶歇&产品展示 | |
14:45-15:15 | 分布式和混合式PXIe系统 | VTI |
15:15-15:45 | PXI系统中为什么要选择海量互联解决方案? | VPC |
15:45-16:15 | 基于PXI架构的高速高精度信号测量应用新趋势 | 凌华科技 |
16:15-16:45 | “新常态”下PXI技术创新应用的些许思考 | 北京航天测控 |
16:45-17:15 | 基于边界扫描技术的电路板测试与诊断解决方案 | GOEPEL |
17:15-17:25 | 问答&抽奖 |
时间 | 演讲主题 | 公司/演讲人 |
---|---|---|
9:00-9:20 | 主题演讲:PXI平台开启测试测量的未来 | Ryota lkeda先生 亚太区市场总监 美国国家仪器 |
9:20-9:50 | 如何使用基于SMU的PXI系统实现高速/高精确信号采集及测试 | Chroma |
9:50-10:20 | PXI系统在通用测试平台中的应用 | 海泰电子 |
10:20-10:35 | 茶歇&产品展示 | |
10:35-11:05 | 解决LTE/LTE-A多通道同步校准在MIMO和波束成形中的应用 | 是德科技 |
11:05-11:35 | 消除PXI测试系统的电缆连接 | MacPanel |
11:35-12:05 | 轻松应对未来的测试挑战——和NI一起基于PXI平台构建测控应用解决方案 | 美国国家仪器 |
12:05-13:15 | 自助午餐&产品展示 | |
13:15-13:45 | PXI射频开关系统优化设计 | Pickering |
13:45-14:15 | 聚星定制—基于PXI定制射频收发 | 聚星仪器 |
14:15-14:45 | 茶歇&产品展示 | |
14:45-15:15 | 分布式和混合式PXIe系统 | VTI |
15:15-15:45 | 基于PXI架构的高速高精度信号测量应用新趋势 | 凌华科技 |
15:45-16:15 | “新常态”下PXI技术创新应用的些许思考 | 北京航天测控 |
16:15-16:45 | 基于PXI平台加速混合信号测试 | 美国国家仪器 |
16:45-17:15 | 基于边界扫描技术的电路板测试与诊断解决方案 | GOEPEL |
17:15-17:25 | 问答&抽奖 |